Taylor Hobson始終致力于不斷改進設(shè)備，為客戶提供*高精度表面粗糙度和形貌輪廓的測量解決方案。S-100系列粗糙度儀采用新設(shè)計的精密機械結(jié)構(gòu)及耐用測針，集中體現(xiàn)了準(zhǔn)確且穩(wěn)定可靠、并便于攜帶的現(xiàn)場需要，使其在廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域中享有盛譽。 英國泰勒霍普森TaylorHobson是粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀以及圓柱度儀的發(fā)明者，提供從手持的現(xiàn)場級測量設(shè)備Surtronic 25、Surtronic DUO、Surtronic S-100系列新型粗糙度儀，經(jīng)濟型粗糙度輪廓儀Form TalySurf Intra，精密計量室的大型測量系統(tǒng)Form TalySurf i60/i120/i200電感系列，高精度PGI系列，以及用于研發(fā)而具有世界精度的CCI三維形貌測量系統(tǒng)和圓度儀Taylor Talyrond 130、圓柱度儀Talyrond 131C、及高精度圓柱度Talyrond 365/385/395和Talyrond 565/585/595系列。Taylor Hobson粗糙度儀總代理--篤摯儀器（上海）有限公司 
表面粗糙度輪廓儀Taylor Hobson是表面粗糙度儀和輪廓儀的發(fā)明者，1941年研制出**臺真正意義 上的表面紋理測量儀器Talysurf 1,成為了制造車間中表面粗糙度的參考和控制標(biāo)準(zhǔn)。Taylor Hobson提供從現(xiàn)場隨處可用的手持便攜式測量設(shè)備，到用于精密計量室的大型測量系統(tǒng)，以及用于研發(fā)而具有世界*高精度的PG|系列儀器。以完善的產(chǎn)品線來滿足客戶的不同需求，并依靠多年的經(jīng)驗幫助客戶改善計量。Taylor Hobson始終致力于不斷改進設(shè)備，為客戶提供*高精度表面粗糙度和形貌輪廓的測量解決方案。 Surtronic Duo便攜式粗糙度儀Surtronic Duo是高級便攜式表面粗糙度測量儀，顯示與驅(qū)動單元可分離。只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)(如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt,等等)會直觀顯示在2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用大容量充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進行快速、輕松和準(zhǔn)確的現(xiàn)場測量。 測量能力:
(ISO 4287) | Ra,Rz,Rp,RvRt,
Rz1max, Rsk, Rq, Rku;
Pa, Pz, Pp, Pv, Pt. | | 傳感器范圍: | 200 μm | | 傳感器類型: | 壓電晶體 | | 分辨率: | 0.01 μm (0.4 μin) | | 量程: | Ra: 40um;其余: 199μm | | 測針: | 5 μm的金剛石測針 | | 傳感器觸力: | 200 mg | | 精度: | 讀數(shù)的5%+0.1 μm | | 取樣長度: | 0.8 mm | | 驅(qū)動長度: | 5 mm | | 驅(qū)動速度: | 2mm/s | | 電池續(xù)航: | 超過10,000次測量 | | 待機時間: | 5000小時 | | 校準(zhǔn)方法: | 自動軟件校準(zhǔn)程序 |
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Surtronic S100系列粗糙度測量儀Taylor Hobson粗糙度儀總代理-篤摯儀器（上海）有限公司提供的S-100系列粗糙度儀采用新設(shè)計的精密機械結(jié)構(gòu)及耐用測針，集中體現(xiàn)了準(zhǔn)確且穩(wěn)定可靠、并便于攜帶的現(xiàn)場需要，使其在廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域中享有盛譽。Surtronic S-100系列可獨立測量任何方向的表面(水平、垂直向下甚至反向向.上表面上使用) ;也可用卡具.將其固定安裝在工作臺上，用于批量測量和實驗室應(yīng)用。S- 100系列有兩種型號可供選擇: S-116是標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，S-128則能夠提供提高測量范圍和分析能力。 ?提供多種測量參數(shù)以適合
不同的應(yīng)用需求;
?測針升降裝置，直角測量
和可測深達(dá)70mm孔;
?輪廓圖形顯示測量區(qū)域;
?屏幕四個方向可切換，適
用于不順手的測量位置;
?USB 2.0充電或傳輸數(shù)據(jù);
?齊全的配件和測桿選件;
?功能強大的軟件選項。 |  |
| 測量能力 | SurtronicS-116 | Surtronic S-128 | | 量程: | 200μm100μm10μm | 400μm100μm10um | | 分辨率: | 100nm20nm10nm | 50nm10nm5nm | | 重復(fù)性: | 1 %值+噪音 | 0.5 %值+噪音 | | X軸大行程: | 17.5 mm | 25.5 mm | | 測量單位: | μm/ μin | | 分析標(biāo)準(zhǔn): | ISO 4287, ISO 13565-1, ISO 13565-2, ASME 46.1, JIS0601, N31007 | | 測量參數(shù): | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RpC, RSm,
Rz1max, Rpm, Rda, RzJIS, RC, Rku, Rdc, R3z | | 高級參數(shù): |
可選 | Rk, A1, A2, Mr1, Mr2, Rpk,
Rvk; Pa, Pv,Pp,Pz, Pt, Pq,
Psk, Pmr, Pdq, PpC, PSm,
Pz1max | | 數(shù)據(jù)顯示: | 每頁可顯示7組結(jié)果，可顯示帶XZ軸的輪廓曲線圖 | | 數(shù)據(jù)存儲: | USB(4GB)可儲存39 ,000個原始輪廓 | | 電池續(xù)航: | 大容量鋰電池，可續(xù)航2000次測量 | | 即時接通: | 待機啟動只需1秒便可進行測量 |
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英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
英國泰勒粗糙度儀
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