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產(chǎn)品名稱: |
MiniTest730 F2 HD |
發(fā)布時(shí)間: |
2024-08-31 |
產(chǎn)品品牌: |
ElektroPhysik/德國(guó)EPK |
產(chǎn)品特點(diǎn): |
MiniTest730 F2 HD新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線,加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的。- 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性- 測(cè)量范圍達(dá)15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭 |
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MiniTest730 F2 HD的詳細(xì)資料: |
MiniTest730 F2 HD 新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線,加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的。 - 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性 - 測(cè)量范圍達(dá)15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭 - FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò) 優(yōu)點(diǎn)一覽:
- SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加 - 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置) - FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤 - 溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤 - 生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線 - 大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù) - 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出 - 超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn) - 菜單指引操作,25種語(yǔ)言可選 - 帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC - 可下載更新軟件 技術(shù)參數(shù) 探頭特性 | F1.5,N07,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | F | N | F | F | N | F | 測(cè)量范圍 | 0~1.5mm | 0~0.7mm | 0~2mm | 0~5mm | 0~2.5mm | 0~15mm | 使用范圍 | 小工件,薄涂層 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | 測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) | 度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | 重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | 小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | 小曲率半徑 | (凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | (凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | 小測(cè)量面積 | Ø5mm | Ø10mm | Ø25mm | 小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm | 連續(xù)模式下測(cè)量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | 單值模式下大測(cè)量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) |
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產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: 測(cè)厚儀 EPK測(cè)厚儀 MiniTest730 |
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